반사 억제를 위한 편광 A/B 시험

시험으로 확인할 사항

반사를 줄여도 결함이 사라지면 도움이 되지 않습니다. 같은 정상 표면과 스크래치 표면에서 무편광과 교차 편광을 비교합니다.

이 글은 제조사에 종속되지 않는 시운전 시험 방법입니다. 설정을 변경하기 전에 실제 카메라, 렌즈, 센서 또는 제어기의 모델별 매뉴얼을 확인하세요. 계산표의 수치는 가정값이며 Deyi Vision의 실측 결과나 제품 사양이 아닙니다.

먼저 영상 오류를 구분합니다. 포화된 반사가 흠집을 가리는 경우, 반사된 조명 윤곽이 검출기를 작동시키는 경우, 부품 기울기에 따라 대비가 변하는 경우를 결과표에서 따로 관리하세요. 배경이 깨끗해 보인다고 검사가 좋아진 것은 아닙니다. 선택한 광학 구성이 가장 작은 대상 결함과 허용 가능한 표면을 구분하는 정보를 유지하는지가 핵심입니다.

적용 조건

실제 재료와 각도를 사용합니다. 금속, 거친 면과 곡면의 반응은 다를 수 있습니다. 편광은 유효 광량도 줄이므로 노출 변경을 따로 기록합니다.

마감, 코팅과 곡률이 비슷한 양품과 결함품을 선정하고 촬영 전에 결함 위치를 표시합니다. 생산 범위에서 검사하기 어려운 표면도 포함하세요. 광택이 있는 결함품과 무광 양품을 비교하여 차이를 편광 효과로 판단하지 마세요. 이 대응 비교와 기록 절차는 공급업체에 종속되지 않는 실험 설계이며 특정 필터나 카메라의 지정 설정이 아닙니다.

시험 장비와 기록

광원 편광판, 회전 가능한 렌즈 분석기, 고정 지그와 식별 시료를 준비합니다. 게인과 기하를 고정하고 각도와 정격을 확인합니다.

기계 배치를 촬영하고 마운트에 표시하여 제거한 필터를 같은 위치에 되돌릴 수 있게 합니다. 조명 방향, 카메라 자세, 초점, 조리개와 배경을 기록하세요. 비교 중 자동 노출과 자동 게인 변경을 중지합니다. 광원 편광판과 분석기가 필요한 시야를 가리지 않으며 마운트가 조명의 작동 조건에 적합한지도 확인합니다.

시험 절차

1. 편광 없는 A로 정상 및 결함 시료를 촬영한다.
2. 광원 편광판을 넣고 분석기를 회전하여 최소 반사 각도를 기록한다.
3. 같은 노출의 B와 이동 한계 내 밝기 보정 노출의 B를 각각 촬영한다.
4. 부품 기울기와 재료 로트를 바꾸며 포화 비율, 결함 CNR과 검출 결과를 비교한다.

편광 촬영 뒤에 무편광 기준 촬영을 다시 수행합니다. 기준 영상이 달라지면 필터 효과를 해석하기 전에 이동, 조명 드리프트와 샘플 취급을 조사하세요. 각 원본 영상에서 같은 결함 좌표를 확인합니다. 동일 노출 비교는 광학 변화의 영향을 분리하고, 밝기를 맞춘 비교는 노출 제약 안에서 생산에 사용할 영상을 얻을 수 있는지 확인하므로 따로 관리합니다.

가정값을 사용한 계산표

가정한 10000픽셀 ROI에서 A는 1200개, B는 80개가 포화되어 12%와 0.8%입니다. B의 CNR 3.2도 독립 결함 시험을 통과해야 의미가 있습니다.

clipped_fraction = clipped_pixels / ROI_pixels
A: 1200 / 10000 = 12%
B: 80 / 10000 = 0.8%
CNR_A = 1.5; CNR_B = 3.2 (hypothetical)

클리핑 마스크로 정보 손실의 양뿐 아니라 위치도 확인합니다. 포화 비율이 낮아져도 핵심 흠집이 가려질 수 있습니다. 대응하는 영역에서 결함과 배경 통계를 계산하고 CNR에 사용한 노이즈 정의를 기록하세요. 이 가상 계산표의 CNR 수락 임계값을 실제 결함 검증 없이 생산 검사에 적용하지 마세요.

시험 흐름

절차 도해는 조건이 관리된 비교를 나타냅니다. 각 영상에 샘플 식별자, 구성, 분석기 방향과 실제 촬영 설정을 연결하세요. 기하 배치와 편광을 동시에 바꾸면 개선 원인이 불명확해집니다. 배치를 변경해야 한다면 별도 실험으로 진행하고 독립 기준 영상을 보존하며 기존 A/B 비교 자료와 섞지 않습니다.

결과 해석

비교 도해를 결함 부분 영상과 함께 읽습니다. 분석기를 회전할 때 반사와 결함을 모두 추적하세요. 두 신호가 함께 사라질 수 있습니다. 허용 가능한 표면도 같은 방식으로 비교하여 오검출을 일으킬 수 있는 무늬를 찾습니다. 적합하지 않았던 각도도 저장하면 선택 방향의 근거를 설명하고 이후 마운트 이동을 진단할 수 있습니다.

문제 해결

• 반사와 스크래치가 함께 사라지면 가장 어두운 각도를 택하기 전에 조명 각도를 바꾼다.
• 노출 보정으로 이동 흐림이 생기면 검증 상한을 넘기지 말고 광원이나 기하를 개선한다.

곡면에서 반사 억제가 달라지면 한 각도가 모든 곳에 통한다고 가정하지 말고 실패 영역을 부품 자세와 대응시킵니다. 어두운 영상에 과도한 게인이 필요하면 검출기 조정 전에 원본 노이즈와 사용 가능한 조명을 확인하세요. 코팅이나 재료 로트의 반응이 달라지면 대응 광학 비교를 반복합니다. 소프트웨어 조정으로 가려진 결함이 보이게 되었다고 입증할 수는 없습니다.

인수 판정과 인계

요구 기울기 범위에서 대표 결함을 검출하고 정상품을 통과시켜야 승인합니다. A/B 원시 영상, 분석기 각도와 두 노출 비교를 보관합니다.

원시 데이터, 설정, 시료 ID와 판정 한계를 함께 보관하세요. 아래 관련 제품과 준비 가이드를 참고하여 기록된 요구 사항을 Deyi Vision과 검토할 수 있습니다.

분석기 방향 선택에 사용하지 않은 독립적으로 식별된 부품으로 마무리합니다. 정의한 자세 범위와 실제 라인 조건에서 결함 검출과 양품 판정 동작을 확인하세요. 노출 상한, 마운트 표시와 재비교가 필요한 조건을 기록합니다. 성공과 실패 원본을 함께 인계해야 다른 엔지니어가 발표용 영상에서 추측하지 않고 결정을 재현할 수 있습니다.