시험으로 확인할 사항
영상 도착과 분리하여 트리거에서 노출까지 측정합니다. 호스트 수신 시간에는 읽기, 전송과 OS 스케줄링이 포함됩니다.
이 글은 제조사에 종속되지 않는 시운전 시험 방법입니다. 설정을 변경하기 전에 실제 카메라, 렌즈, 센서 또는 제어기의 모델별 매뉴얼을 확인하세요. 계산표의 수치는 가정값이며 Deyi Vision의 실측 결과나 제품 사양이 아닙니다.
적용 조건
문서화된 타이밍 출력이나 광학적으로 검증된 대안이 필요합니다. 전압, 극성, 출력 전파 지연을 확인하세요. 출력 에지는 센서 시각의 대리값입니다.
트리거 수락, 노출 시작과 소프트웨어 도착을 구분합니다. 전기 에지와 문서화된 노출 대리 신호를 측정하며 관계가 불명확하면 센서 직접 측정이 아닙니다. 지원 트리거 속도를 사용하고 Busy 사건을 통계에서 제외하더라도 별도 취득 실패로 집계합니다.
시험 장비와 기록
오실로스코프, 적절한 프로브, 안전한 펄스 발생기와 모델 문서를 준비합니다. 트리거, 디바운스, 지연, ROI, 노출과 에지 정의를 저장합니다.
연결 전에 입력 전압, 극성, 기준 전위와 출력 부하를 확인합니다. 문서화된 노출 관련 출력이 없으면 대리 측정 불가를 기록합니다. 측정점, 배선, 에지 임계값, 스코프 설정, 활성 에지, 디바운스, 지연과 설정 내보내기를 보관합니다.
시험 절차
- 모델 매뉴얼에 따라 지원 입력 에지와 타이밍 출력을 설정한다.
- 카메라 입력 단자와 노출 출력을 측정하고 알려진 프로브 시간차를 보정한다.
- 낮은 속도에서 1000쌍을 얻고 최대 예정 트리거 속도에서 반복한다.
- 평균, 최소, 최대, 누락 수를 계산하고 재시작 후 및 호스트 부하 상태에서 반복한다.
입출력을 같은 시간축에서 취득하고 동일 임계값으로 에지 차이를 구합니다. 최소·최대·이상값의 원시 파형을 남깁니다. 신호 발생기 시험 후 생산 제어기와 배선으로 반복하여 카메라 단독 시험에 없는 기여를 비교합니다.
가정값을 사용한 계산표
가정한 출력 지연 39–47 µs의 평균은 42 µs, 피크 간 지터는 8 µs입니다. 500 mm/s에서 최대 지연 동안 23.5 µm 이동합니다. 센서 지연으로 해석하려면 출력 전파 시간을 고려해야 합니다.
L_i = exposure_output_edge_i - trigger_input_edge_i
mean(L) = 42 us; min(L) = 39 us; max(L) = 47 us
peak_to_peak_jitter = 47 - 39 = 8 us| 항목 | 가정값 | 의미 |
|---|---|---|
| 평균 대리 지연 | 42 µs | 가정한 1000개 이벤트 |
| 피크 간 지터 | 8 µs | 최대값에서 최소값 차감 |
| 최대 지연 이동량 | 23.5 µm | 500 mm/s × 47 µs |
최대최소 차이는 관측 변동이고 최대값은 출력 변화 전 이동의 추정치이며 보장 사양이 아닙니다. 일정 지연을 위치 보상해도 지터는 남습니다. 위치 기준점을 기록하고 이동 타깃으로 보상을 독립 검증하며 보상 전 데이터도 보관합니다.
시험 흐름
시험 흐름
입력과 노출 출력 에지를 같은 시간축에서 비교합니다. 영상 수신은 더 늦습니다.
- 입력
- 노출 대리값
- 읽기
- 수신
결과 해석
결과 해석
I/O 확인 후 에지 쌍을 모으고 단일 파형 대신 지연 분포를 평가합니다.
- I/O 확인
- 에지 쌍
- 분포
- 한계
제어 에지, 입력 수락, 노출과 출력 순서로 해석합니다. 출력 전파 지연만으로 평균이 바뀔 수도 있습니다. 같은 측정점과 기능끼리 비교하고 문서 없는 중간 지연은 미해결로 남깁니다. 가정값을 빼 정밀한 센서 지연인 것처럼 만들지 않습니다.
문제 해결
- 고정된 추가 지연은 트리거 지연이나 디바운스 설정일 수 있다.
- 고속에서만 이벤트가 빠지면 카메라 준비 상태를 확인한다. 디바운스를 무작정 줄이면 오동작할 수 있다.
누락 펄스는 Ready나 Busy부터 확인합니다. 지연 집단이 여러 개면 해당 파형으로 제어 순서, 디바운스와 임계값을 조사합니다. 임계값 변경에 민감하면 상승시간과 노이즈를 점검합니다. 조명은 동기 포토다이오드로 별도 평가하며 전기 출력과 광응답을 혼동하지 않습니다.
인수 판정과 인계
허용 위치 오차로 최대 지연과 지터 한계를 정합니다. 기대 이벤트 수, 파형, 대리 출력 가정과 설정을 보관합니다.
원시 데이터, 설정, 시료 ID와 판정 한계를 함께 보관하세요. 아래 관련 제품과 준비 가이드를 참고하여 기록된 요구 사항을 Deyi Vision과 검토할 수 있습니다.
트리거-출력, 취득 성공과 위치 오차에 각각 기준을 적용합니다. 생산 배선과 제어로 최고 예정 부하의 새 파형 쌍을 취득하고 미수락 트리거와 누락을 보고합니다. 측정 출력 이름, 노출과의 관계와 위치 보상의 유효 조건을 인계합니다.
출처와 기술 참고 자료
참고 자료는 이 안내의 방법과 한계를 설명합니다. 예시 확인 절차는 참고용이며, 생산 수락 판정에는 실제 샘플을 통한 근거가 필요합니다.
- Triggered Image AcquisitionBasler확인일
- Acquisition Timing InformationBasler확인일
- Line SourceBasler확인일
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