選型思路
背光在影像中抑制頂面細節，使輪廓清晰；同軸光控制前表面反射，顯現平坦反光工件的表面特徵。
比較
背光與同軸照明
比較背光和同軸機器視覺照明以進行輪廓測量、平面反射表面、印刷標記和表面特徵對比度。
要點
背光與同軸照明
當決定取決於輪廓、邊緣、孔或間隙輪廓時，請使用背光。當必須從相機軸上看到平坦的反射表面、印刷標記、淺划痕或表面特徵時，請使用同軸照明。
本文採機器輔助翻譯，尚未經真人語言審閱。技術條件仍須依實際樣品與來源資料確認。 英文原文
選型條件
同軸照明有助於檢測平坦的反光表面，以及印刷或蝕刻標記。
詢價前準備
報價前應透過樣品影像確認對比度。
先掌握這些重點
- 背光適合輪廓、邊緣和孔的檢測。
- 同軸照明有助於檢測平坦的反光表面，以及印刷或蝕刻標記。
- 報價前應透過樣品影像確認對比度。
選型與操作說明
背光是清晰幾何輪廓的第一條途徑。
當目標是邊緣、直徑、孔、槽或間隙時，背光可以將零件變成高對比度輪廓，並消除會乾擾測量的表面紋理。
同軸照明用於相機軸反射控制。
同軸燈沿著與相機相同的軸發送照明。它可以顯示印刷標記、平面划痕或反射平面上的淺表面特徵，這些特徵在普通環形照明下會眩光。
錯誤的光線可能會掩蓋實際的缺陷。
背光可以形成完美的輪廓，同時隱藏頂面污染。同軸光可能會顯示出平坦的標記，但在彎曲的金屬上卻無法顯示。缺陷證據應決定路線。
鏡頭和夾具的重復性仍然很重要。
背光測量通常與遠心或低畸變光學器件配合使用。同軸檢測需要穩定的相機角度、工作距離和表面位置，以便反射不會在批次之間發生變化。
比較影響選型的條件
| 比較項目 | 實務判斷 | 詢價時需要的資料 |
|---|---|---|
| 背光 | 最適合輪廓、邊緣、孔、間隙、直徑和輪廓檢查。 | 發送邊緣公差以及頂面細節是否不相關。 |
| 同軸燈 | 最適合平面反射表面、印刷標記和需要軸上反射的特徵。 | 發送眩光示例和目標表面特徵。 |
| 測量路線 | 背光量測通常需要同時檢查鏡頭畸變與工件治具的穩定性。 | 發送 FOV、工作距離、公差和零件高度變化。 |
| 表面檢測方案 | 同軸光更適合平坦表面；彎曲工件可能需要穹頂漫射照明或多角度照明。 | 發送零件幾何形狀和表面光潔度照片。 |
詢價前準備
- 工件、材質及表面狀態
- 瑕疵、條碼、尺寸或幾何目標
- 視野、工作距離及安裝空間
- 產線速度、觸發方式及所需輸出
- 目前參考型號、樣品影像或失敗案例
常見選型誤區
- 尚未明確檢測目標，就先依型號選購。
- 把照明當作附件，忽略它對影像對比的影響。
- 忽略治具穩定性、工件變化和維護流程。
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延伸技術指南
品牌與替代方案比較
常見問題
本指南常見問題
機器視覺中什麼時候應該使用背光？
使用背光進行基於輪廓的檢查，例如邊緣、孔、間隙、外徑和零件輪廓測量。
我什麼時候應該使用同軸照明？
對平面反射表面、印刷標記、淺划痕或需要沿相機軸控制反射的特徵使用同軸照明。
背光源和同軸光能解決同樣的檢測嗎？
有時兩者都應該進行測試，但它們揭示了不同的證據。背光強調輪廓；同軸照明強調前表面特徵。
應用選型示範
這些內容是內部編寫的選型示範，用於說明組件選擇與建議驗收條件，並非真實客戶專案、實測交付成果或客戶背書。示範中的圖片僅用於說明。