选型思路
背光在图像中抑制顶面细节,使轮廓清晰;同轴光控制前表面反射,显现平坦反光工件的表面特征。
比较
比较背光和同轴机器视觉照明以进行轮廓测量、平面反射表面、印刷标记和表面特征对比度。
要点
当决定取决于轮廓、边缘、孔或间隙轮廓时,请使用背光。当必须从相机轴上看到平坦的反射表面、印刷标记、浅划痕或表面特征时,请使用同轴照明。
本文采用机器辅助翻译,尚未经真人语言审阅。技术条件仍须依据实际样品与来源资料确认。 英文原文
背光在图像中抑制顶面细节,使轮廓清晰;同轴光控制前表面反射,显现平坦反光工件的表面特征。
同轴照明有助于检测平坦的反光表面,以及印刷或蚀刻标记。
报价前应通过样品图像确认对比度。
当目标是边缘、直径、孔、槽或间隙时,背光可以将零件变成高对比度轮廓,并消除会干扰测量的表面纹理。
同轴灯沿着与相机相同的轴发送照明。它可以显示印刷标记、平面划痕或反射平面上的浅表面特征,这些特征在普通环形照明下会眩光。
背光可以形成完美的轮廓,同时隐藏顶面污染。同轴光可能会显示出平坦的标记,但在弯曲的金属上却无法显示。缺陷证据应决定路线。
背光测量通常与远心或低畸变光学器件配合使用。同轴检测需要稳定的相机角度、工作距离和表面位置,以便反射不会在批次之间发生变化。
| 比较项目 | 实际判断 | 询价时需要的资料 |
|---|---|---|
| 背光 | 最适合轮廓、边缘、孔、间隙、直径和轮廓检查。 | 发送边缘公差以及顶面细节是否不相关。 |
| 同轴灯 | 最适合平面反射表面、印刷标记和需要轴上反射的特征。 | 发送眩光示例和目标表面特征。 |
| 测量路线 | 背光测量通常需要同时检查镜头畸变与工件治具的稳定性。 | 发送 FOV、工作距离、公差和零件高度变化。 |
| 表面检测方案 | 同轴光更适合平坦表面;弯曲工件可能需要穹顶漫射照明或多角度照明。 | 发送零件几何形状和表面光洁度照片。 |
常见问题
使用背光进行基于轮廓的检查,例如边缘、孔、间隙、外径和零件轮廓测量。
对平面反射表面、印刷标记、浅划痕或需要沿相机轴控制反射的特征使用同轴照明。
有时两者都应该进行测试,但它们揭示了不同的证据。背光强调轮廓;同轴照明强调前表面特征。
这些内容是内部编写的选型示例,用于说明组件选择与建议验收条件,并非真实客户项目、实测交付成果或客户背书。示例中的图片仅用于说明。