檢查雷射輪廓基準與缺失資料的處理行為

本測試要回答的問題

當基準 ROI 包含了被測特徵，或丟失了資料時，相對於擬合基準的高度可能發生變化。在調整合格閾值之前，先驗證幾何關係和無效點的處理方式。

這是一份與廠商無關的現場調機方法。更改任何設定之前，請先查閱所用具體型號的相機、鏡頭、感測器或控制器手冊。文中的數值範例表為假設資料，既不是 Deyi Vision 的量測結果，也不是產品規格。

前置條件

使用有代表性的台階狀表面，並配有獨立的高度參考。確認所安裝感測器的座標單位、有效資料的表示方式，以及與韌體相關的曝光控制。

把高度定義為相對於某個物理基準的高度，並指出哪些區域內的量測點是必不可少的。一條包含很多有效點的輪廓，仍可能缺少關鍵的頂面或基面。查閱所安裝感測器和韌體的文件，了解其有效性指示和量測規則。舊版官方參考文件可印證這裡的診斷原則，但並不能說明任何目前 Deyi 感測器的內插、曝光或工具功能。

測試台與紀錄

準備原始輪廓/強度紀錄、固定治具和參考台階。儲存感測器位姿、基準/特徵 ROI、濾波器、曝光和量測狀態標誌。

準備獨立的高度參考、剛性治具，以及原始輪廓紀錄，紀錄中應包含可獲得的強度和狀態資訊。標出特徵之外的基面區域和必需的特徵區域。記錄感測器位姿、材料、所支援的曝光設定，以及接受基準擬合結果的規則。保留無效點標記，不要把它們轉換成零；並說明匯出的位置是直接測得的、經過轉換的，還是由其他處理環節填充的。

執行測試

1. 在特徵之外的穩定參考表面上定義基準 ROI；檢查擬合的直線和殘差。
2. 在三種支援的曝光設定下擷取輪廓，比較有效覆蓋率，而不是只看外觀是否平滑。
3. 輕微旋轉或平移試件，以區分遮擋與訊號過弱或過強。
4. 有意測試缺失的特徵/基準區域，確認應用程式回傳的是無效或需複核的狀態，而不是一個看似合理的數值。

在預定且受支援的曝光設定下擷取參考件，先比較點的有效性和高度，再去調整量測工具。透過受控試驗改變觀察方向，以區分遮擋與回波微弱，同時保持參考幾何不變。只用有依據的基面點來擬合基準，並檢查其殘差和位置。然後利用有效的必需點來評估特徵高度，並使用有意製造的不完整輪廓，來驗證應用程式的無效結果處理路徑。

假設範例表

假設特徵 Z12.34 mm 減去基準 Z10.00 mm，得到 2.34 mm。預期的 100 個取樣點中只有 80 個有效，基準殘差為 0.008 mm。只有覆蓋率/位置判定準則和與參考值的比較都通過，這個高度才可用；內插不屬於實測佐證。

height = valid_feature_z - fitted_datum_z_at_feature
12.34 - 10.00 = 2.34 mm
valid_fraction = valid_samples / expected_samples
80 / 100 = 80%
Missing values remain invalid, not zero height.

該範例表用觀測到的特徵座標減去擬合基準。其中的有效點比例只描述了所指定統計區域內的覆蓋情況，並不能證明特徵的關鍵位置已被觀測到。基準殘差低，只說明所選的點與擬合基準吻合，並不能證明這些點代表的就是正確的物理基面。在接受這個假設高度之前，要同時檢查空間覆蓋情況，並確認基準取自正確的物理面。

測試流程

解讀佐證

把幾何示意圖當作一張佐證圖來讀：直接回波、缺失區域、特徵和基準各有不同的意義。把被接受的基準點和特徵點疊加到原始輪廓上，以暴露點集被污染或選點錯誤。內插得到的位置可以用於視覺化，但必須始終標註為估計值。不要讓一條好看的連續曲線，把未被觀測到的邊緣變成回報的實測高度。

故障排除

• 基準 ROI 碰到凸起的特徵，會使基線產生偏差。
• 缺失點不隨曝光而改變、卻隨角度而改善，提示是遮擋；增加曝光無法讓被遮住的幾何形狀顯現出來。

缺失點隨觀察方向而變化，提示是遮擋或反射幾何的問題，需要檢查實際的表面。缺失點隨所支援的曝光設定而變化，則可能與訊號範圍有關；在推斷原因之前，先檢查狀態資訊和原始佐證。基準漂移，可能是特徵點進入了基面區域，或治具發生了移動。如果無效資料產生了一個看似合理的零高度，應先修正應用程式對有效性的處理，再去調整任何合格/不合格閾值。

驗收與交接

測試之前先定義關鍵區域的最低覆蓋率和基準殘差的上限。要求無效狀態得到正確處理，且高度與獨立參考一致；絕不能用零替代缺失點，也不能悄悄跨越與瑕疵等大的缺口。

將原始檔案、設定、樣品標識和判定限值一併歸檔。請參照下方相關的產品指南與準備指南，與 Deyi Vision 討論已有書面記載的需求。

在聲明的位姿和材料範圍內，用新擷取的參考件資料進行驗證，要求關鍵特徵區域和基準區域都具有約定的可用佐證。按所選的判定策略，把高度與獨立參考進行比較。有意移除或作廢必需的點，驗證檢測會回報無效結果並給出其原因。歸檔原始輪廓、所選區域和有效性規則；感測器位姿、配方或材料發生變化後，應重複該測試。