Inspección y metrología

Verificar datum y datos ausentes del perfil láser

La altura cambia si ROI de datum contiene el detalle o pierde puntos. Valide geometría y datos inválidos antes del umbral.

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Verificar datum y datos ausentes del perfil láser — Ilustración técnica; no es una fotografía de una instalación Deyi validada.
Ilustración técnica; no es una fotografía de una instalación Deyi validada.

Qué resuelve la prueba

La altura cambia si ROI de datum contiene el detalle o pierde puntos. Valide geometría y datos inválidos antes del umbral.

Este método de puesta en marcha es independiente del fabricante. Antes de cambiar ajustes, consulte el manual del modelo concreto de cámara, lente, sensor o controlador. Los números son hipotéticos, no mediciones de Deyi Vision ni especificaciones del producto.

Condiciones de aplicación

Use escalón representativo con referencia independiente. Confirme unidades, representación inválida y exposición de la versión instalada.

Defina altura respecto a datum físico y regiones con medida obligatoria. Muchos puntos válidos no compensan cima o base ausente. Consulte indicadores y reglas del sensor/firmware instalado. La fuente antigua apoya principios, no capacidades actuales Deyi de interpolación, exposición o herramientas.

Banco de pruebas y registros

Prepare perfiles/intensidad originales, fijación y escalón patrón. Guarde pose, ROI, filtros, exposición y estados.

Prepare altura independiente, útil rígido y perfiles originales con intensidad/estado disponibles. Marque base exterior y región crítica. Registre pose, material, exposiciones compatibles y regla de ajuste. No convierta inválidos en cero; distinga posiciones medidas, transformadas y rellenadas.

Procedimiento

  1. Sitúe datum en superficies estables fuera del detalle; revise recta y residuo.
  2. Capture tres exposiciones compatibles comparando cobertura válida, no solo suavidad.
  3. Gire/desplace ligeramente para separar oclusión y señal baja/excesiva.
  4. Provoque ausencia de datum/detalle y exija estado inválido/revisión en vez de cifra plausible.

Capture referencia con exposiciones previstas, comparando validez y altura antes de cambiar herramientas. Cambie orientación controladamente para separar oclusión de retorno débil. Ajuste datum con puntos justificados, revise posición/residuo. Evalúe con puntos válidos requeridos y pruebe perfiles incompletos deliberados.

Hoja de cálculo hipotética

Hipotéticamente Z 12.34 menos datum 10.00 mm da 2.34 mm. Solo 80/100 puntos son válidos y residuo 0.008 mm. Exija cobertura y referencia; interpolación no es evidencia medida.

height = valid_feature_z - fitted_datum_z_at_feature
12.34 - 10.00 = 2.34 mm
valid_fraction = valid_samples / expected_samples
80 / 100 = 80%
Missing values remain invalid, not zero height.
Hoja hipotética; sustituya todas las entradas por valores registrados en su instalación.
MagnitudValor hipotéticoSignificado
Altura relativa2.34 mmDiferencia hipotética
Fracción válida80%Cobertura en región crítica
Residuo de datum0.008 mmRMS hipotético, no exactitud del sensor

La altura resta datum a coordenada del rasgo. Cobertura solo describe región contada, no garantiza el punto crítico. Residuo pequeño indica ajuste de puntos elegidos, no base física correcta. Revise cobertura espacial e identidad del datum antes de aceptar altura.

Secuencia de prueba

Secuencia de prueba

Ajuste datum fuera del detalle y mida altura respecto al datum local.

  1. Superficie patrón
  2. Datum
  3. Detalle
  4. Altura
Ajuste datum fuera del detalle y mida altura respecto al datum local. Esquema conceptual; las distancias no están a escala.
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Interpretación de la evidencia

Interpretación de la evidencia

Revise cobertura original antes de variar luz/ángulo y rechace estados inválidos.

  1. Perfil original
  2. Máscara válida
  3. Luz/ángulo
  4. Decisión válida
Revise cobertura original antes de variar luz/ángulo y rechace estados inválidos. Esquema conceptual; las distancias no están a escala.
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Separe retornos directos, huecos, rasgo y base. Superponga puntos elegidos sobre originales para detectar contaminación. Interpolación puede visualizarse pero debe etiquetarse estimada. Una curva continua no convierte una arista no observada en altura medida.

Diagnóstico de fallos

  • Datum sobre el relieve sesga la base.
  • Huecos que mejoran con ángulo pero no exposición sugieren oclusión; más luz no revela geometría escondida.

Huecos según orientación requieren revisar oclusión/superficie; según exposición, estado y señal original. Datum variable puede contener rasgo o movimiento del útil. Si inválidos generan cero plausible, corrija validez antes del umbral.

Aceptación y entrega

Defina cobertura mínima crítica y residuo máximo antes. Exija tratamiento inválido y acuerdo con patrón; nunca sustituya faltantes por 0 ni interpole silenciosamente huecos de tamaño de defecto.

Archive juntos datos originales, ajustes, identificadores de muestras y límites de decisión. Utilice las guías y productos relacionados para revisar los requisitos documentados con Deyi Vision.

Valide referencias nuevas en poses/materiales declarados, exigiendo evidencia crítica y acuerdo independiente. Quite puntos requeridos deliberadamente y compruebe resultado inválido con causa. Archive perfiles, regiones y reglas; reensaye cambios de pose, receta o material.

Fuentes y referencias técnicas

Las referencias explican los métodos y límites del tutorial. Las comprobaciones de ejemplo sirven de orientación; la aceptación en producción requiere pruebas con sus propias muestras.

  1. Gocator Measurement Tool Technical ManualLMI TechnologiesComprobado
  2. Gocator Line Profile Sensors User ManualsLMI TechnologiesComprobado

Revisión de ingeniería

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